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题名:
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超大规模集成电路测试: 数字、存储器和混合信号系统 / (美)Michael L.Bushnell, (美)Vishwani D.Agrawal , |
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ISBN:
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7-121-01490-4 价格： 58.00 |
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载体形态:
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16,511页 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 20050101 |
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内容提要:
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本书本三个部分，第一部分是测试基础，介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、模拟与混合信号测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、模拟测试等。 |
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主题词:
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超大规模集成电路 |
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中图分类法:
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TN470.7 版次： |