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题名:
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X射线衍射理论与实践.Ⅱ Ⅱ / 黄继武，李周等编著 , |
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ISBN:
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978-7-122-38012-8 价格： 46 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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182页 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 化学工业出版社 出版日期： 2021.07 |
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内容提要:
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本书包括X射线衍射分析的3个专题应用和Rietveld全谱拟合精修方法。专题应用包括：宏观内应力的测量(第1章)、织构的测定与分析(第2章)和非晶态物质的X射线衍射分析(第6章)。每个专题应用都包括4个环节：从基础理论开始，导出实验原理和实验方法，最后结合科研需要，通过应用实例讲解，进行操作技能培训，并且通过课堂讨论问题、思考计算和实践操练对相关专题进行总结、归纳和技能提升。针对Rietveld全谱拟合精修方法，第3章详细阐述了Rietveld方法的基本原理和数学基础；第4章和第5章以Jade和Maud两种智能化精修软件为工具，提出了Rietveld方法在多晶材料中的各种具体应用方法。 |
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中图分类法:
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O434.1 版次： |
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附注:
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教育部高等学校材料类专业教学指导委员会规划教材 |