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题名:
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互换性与技术测量 / 韩进宏, 参李云雷 .. , |
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ISBN:
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978-7-111-55729-6 价格： 43.00 |
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载体形态:
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275页 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 20170101 |
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内容提要:
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本书共分12章, 包括: 绪论, 几何量测量技术基础, 孔、轴的极限与配合, 几何公差与几何误差检测, 表面粗糙度与检测, 光滑工件尺寸检验和光滑极限量规设计, 滚动轴承的公差与配合, 圆锥的公差与配合、键和花键的公差与检测, 螺纹公差, 圆柱齿轮公差与检测, 实验指导书。本书突出对公差带特点的分析与应用, 对难点问题分析透彻。前11章每章后均有思考题和习题, 并有讲课、解题所需的公差表格, 以方便教学与读者自学。 |
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主题词:
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零部件 |
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中图分类法:
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TG801 版次： |