题名:
测试误差分析与数学模型
/ 黄俊钦Shu Bian Xie Zu ,
ISBN:
0 价格： 5.20
载体形态:
446页 21厘米
出版发行:
出版地： 北京 出版社：
国防工业出版社
出版日期： 19850101
中图分类法:
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