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题名:
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公差配合与技术测量 [ 专著] gong chai pei he yu ji shu ce liang / 张皓阳主编 , |
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ISBN:
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978-7-115-27112-9 价格： CNY1.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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303页 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 人民邮电出版社 出版日期： 2012 |
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内容提要:
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本书内容包括：尺寸公差与配合、技术测量基础、形位公差及其测量、表面粗糙度与测量、典型零件的公差与检测、尺寸链、基本测量的实际操作等。 |
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主题词:
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公差 配合 |
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主题词:
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技术测量 高等职业教育 |
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中图分类法:
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TG801 版次： 5 |
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主要责任者:
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张皓阳 zhang hao yang 主编 |
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附注:
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工业和信息化高职高专“十二五”规划教材立项项目 21世纪高职高专机电工程类规划教材 |