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题名:
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数字集成电路测试理论、方法与实践 [ 专著] shu zi ji cheng dian lu ce shi li lun 、 fang fa yu shi jian / 李华伟[等]编著 , |
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ISBN:
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978-7-302-66203-7 价格： CNY79.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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10,258页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 清华大学出版社 出版日期： 2024 |
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内容提要:
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本书从数字集成电路测试在数字芯片设计阶段发挥的重要作用出发，介绍了数字电路测试的完整技术体系，内容突出基础理论和关键技术，并以西门子EDA工具Tessent的设计脚本为例，介绍了这些技术在测试综合EDA工具中的使用流程。 |
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主题词:
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数字集成电路 测试技术 |
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中图分类法:
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TN431.207 版次： 5 |
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主要责任者:
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李华伟 li hua wei 编著 |