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题名:
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数字集成电路测试及可测性设计 [ 专著] shu zi ji cheng dian lu ce shi ji ke ce xing she ji / 张晓旭，张永锋，山丹编著 , |
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ISBN:
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978-7-122-46553-5 价格： CNY79.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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190页 彩图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 化学工业出版社 出版日期： 2024 |
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内容提要:
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本书从数字集成电路测试与可测性设计的基本概念出发，系统介绍了数字集成电路测试的概念、原理及方法。主要内容包括：数字集成电路测试基础、测试向量生成、可测性设计与扫描测试、边界扫描测试、内建自测试、存储器测试，以及可测性设计案例及分析，本书将理论与实践相融合，深入浅出地进行理论讲解，并辅以实例解析，帮助读者从入门级别的理解到信手拈来的精通，实现从理论知识到工程应用的有效过渡。 |
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主题词:
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数字集成电路 测试技术 |
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中图分类法:
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TN431.207 版次： 5 |
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主要责任者:
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张晓旭 zhang xiao xu 编著 |
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主要责任者:
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张永锋 zhang yong feng 编著 |
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主要责任者:
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山丹 shan dan 编著 |