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题名:
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公差配合与技术测量 / 耿南平 , |
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ISBN:
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978-7-81124-817-3 价格： 0.00 |
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载体形态:
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281页 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 北京航空航天大学出版社[等] 出版日期： 20100101 |
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内容提要:
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本书包括尺寸公差与配合、技术测量基础、形状和位置公差及检测、表面粗糙度及检测、光滑极限量规的设计、滚动轴承的公差与配合、键和花键联结的公差及检测等。 |
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主题词:
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公差 |
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中图分类法:
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TG801 版次： |