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题名:
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半导体物理与测试分析 / 谭昌龙 , |
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ISBN:
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978-7-5603-3648-0 价格： 0.00 |
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载体形态:
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452页 26cm |
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出版发行:
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出版地： 哈尔滨 出版社： 哈尔滨工业大学出版社 出版日期： 20120101 |
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内容提要:
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本书主要内容包括：半导体的基本性质；半导体中杂质和缺陷能级，以及硅中位错和层错的观察；平衡态半导体中载流子的统计分面等。 |
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主题词:
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半导体物理学 |
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中图分类法:
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O47 版次： |