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题名:
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材料现代测试分析方法 / 刘庆锁 , |
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ISBN:
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978-7-302-37444-2 价格： 0.00 |
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载体形态:
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328页 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 清华大学出版社 出版日期： 20140001 |
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内容提要:
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本书包括X射线衍射分析、电子显微分析两大部分，主要内容包括：X射线衍射方程与强度、多晶体分析方法及X射线衍射分析仪、物相的定性与定量分析、晶体点阵参数的精确确定、透射电镜结构及其成像原理、电子衍射、图像衬度、衍射运动学分析、高分辨透射电子显微技术、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。 |
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主题词:
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材料 |
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中图分类法:
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TB302 版次： |