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题名:
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数字系统测试和可测试性设计 / (美) 塞纳拉伯丁·纳瓦比 , |
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ISBN:
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978-7-111-50154-1 价格： 0.00 |
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载体形态:
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XV, 368页 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 20150101 |
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内容提要:
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本书主要论述了数字系统的电路测试以及设计可测试性。本书使用Verilog进行数字电路的设计、测试分析并实现数字系统可测试性。 |
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主题词:
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数字系统 |
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中图分类法:
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TP271 版次： |