题名:
公差配合与技术测量
/ 张文革，石枫 ,
ISBN:
978-7-5640-3627-0 价格： 0.00
载体形态:
368页 24cm
出版发行:
出版地： 北京 出版社：
北京理工大学出版社
出版日期： 20100101
内容提要:
本书共分9个项目，分别为极限与配合基础、技术测量基础、形状和位置公差及其检测、表面粗糙度及测量、常用典型结合的公差及其检测、尺寸链等。
主题词:
公差
中图分类法:
TG801 版次：