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题名:
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C/C++程序缺陷与优化 / 于秀山 , |
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ISBN:
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978-7-121-22632-8 价格： 0.00 |
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载体形态:
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273页 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 20140101 |
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内容提要:
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本书从另外一个视角——程序缺陷的角度来探讨程序设计与优化。主要包括编码风格、内存管理、内存泄漏、缓冲区溢出、指针使用、安全等方面。对于每一种缺陷，通过实例分析了缺陷产生的原因，并给出了具体的修改和优化方法。 |
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主题词:
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C语言 |
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中图分类法:
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TP312C 版次： |