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题名:
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基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究 / 谢小军 , |
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ISBN:
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978-7-5605-9902-1 价格： 0.00 |
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载体形态:
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123页 24cm |
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出版发行:
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出版地： 西安 出版社： 西安交通大学出版社 出版日期： 20170101 |
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内容提要:
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本文针对这两种不同的电介质材料，研究如何准确建立微观结构模型，并利用分子模拟技术研究材料本征介电特性，分析缺陷在不同温度下对于介电特性的影响。研究材料相变特性，分析相变对于介电特性的影响规律。 |
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主题词:
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绝缘材料 |
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中图分类法:
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TM21 版次： |