|
题名:
|
集成电路芯片测试技术 / 居水荣, 戈益坚 , |
|
ISBN:
|
978-7-5606-5954-1 价格： 0.00 |
|
载体形态:
|
200页 26cm |
|
出版发行:
|
出版地： 西安 出版社： 西安电子科技大学出版社 出版日期： 20210001 |
|
主题词:
|
集成电路 |
|
中图分类法:
|
TN407 版次： |