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题名:
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SOI CMOS技术及其应用 / 黄如 , |
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ISBN:
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7-03-015968-3 价格: CNY48.00 |
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载体形态:
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383页 24cm |
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出版发行:
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出版地: 北京 出版社: 科学出版社 出版日期: 20050101 |
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内容提要:
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本书详细分析和阐述SOI MOS器件的主要基本特征和物理效应,包括浮体效应、短沟效应、窄沟效应、边缘效应等。 |
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主题词:
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互补MOS集成电路 |
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中图分类法:
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TN432 版次: |