题名:
SOI CMOS技术及其应用   / 黄如 ,
ISBN:
7-03-015968-3 价格: CNY48.00
载体形态:
383页 24cm
出版发行:
出版地: 北京 出版社: 科学出版社 出版日期: 20050101
内容提要:
本书详细分析和阐述SOI MOS器件的主要基本特征和物理效应,包括浮体效应、短沟效应、窄沟效应、边缘效应等。 
主题词:
互补MOS集成电路  
中图分类法:
TN432 版次: