|
题名:
|
集成电路系统设计、验证与测试 / (美)Louis Scheffer , |
|
ISBN:
|
978-7-03-021490-4 价格： CNY62.00 |
|
载体形态:
|
14,474页 26cm |
|
出版发行:
|
出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 20080101 |
|
内容提要:
|
本书是“集成电路EDA技术”丛书之一，内容涵盖了IC设计过程和EDA，系统级设计方法与工具，系统级规范与建模语言，SoC的IP设计，MPSoC设计的性能验证方法，处理器建模与设计工具，嵌入式软件建模与设计，设计与验证语言，数字仿真，并详细分析了基于声明的验证，DFT，而且专门探讨了ATPG，以及模拟和混合信号测试等，本书还为IC测试提供了方便而全面的参考。 |
|
主题词:
|
集成电路 |
|
中图分类法:
|
TN402 版次： |