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题名:
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计量与测试专利文摘. （下册） / 上海科学技术情报研究所 , |
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ISBN:
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0 价格： 2.32 |
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载体形态:
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216页 21cm |
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出版发行:
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出版地： 上海 出版社： 上海科学技术文献出版社 出版日期： 19840101 |
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中图分类法:
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0 版次： |